Main
Nanocenter
Scientific researches
Education
Scientific equipment
Library
CCU
Contacts
Personnel
Site Map
  
Main > Scientific equipment > Страницы > default.aspx  

Scientific equipment 

НОЦ "Нанотехнологии" МЭИ > Main > Scientific equipment
 

Научное оборудование

Модуль электронно-ионной спектроскопии на базе платформы Нанофаб 25
Сверхвысоковакуумный аналитический модуль электронно-ионной спектроскопии на базе платформы НаноФаб 25 предназначен для проведения комплексного анализа поверхностных слоев твердого тела. В аналитическом модуле могут исследоваться образцы с размерами до 10×10×8 мм в условиях сверхвысокого вакуума (2×10-8Па).
Аналитический модуль ЭИС позволяет реализовать следующие методики анализа поверхности твердого тела:
· Электронная Оже-спектроскопия (ЭОС) – Auger electron spectroscopy (AES);
· Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) – X-ray photoelectron spectroscopy (XPS);
· Ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия (УФЭС) – Ultraviolet photoelectron spectroscopy (UPS);
· Спектроскопия рассеяния медленных ионов (СРМИ) – Ion scattering spectroscopy (ISS);
· Другие перспективные, развивающиеся методы анализа, основанные на электронной спектроскопии: Electron energy loss spectroscopy ( EELS), Elastic peak electron spectroscopy ( EPES), Reflection electron energy loss spectroscopy ( REELS).
Автономная мобильная система получения жидкого азота из воздуха АЗОТMIXTECH 1/2008
Система предназначена для получения и сжижения чистого азота, используемого для обес-печения криостатирования и низкотемпературных экспериментов при исследованиях в области наноматериалов и нанотехнологий.
Аналитический комплекс на базе просвечивающего электронного микрозонда TECHNAI G2 20 TWIN
Комплекс предназначен для исследования структуры и химического состава образцов на атомарном уровне (паспортное разрешение до 1,6 ангстрема, фактическое – на уровне 2 ангстрема).
Нанолаборатория NTEGRA SPECTRA с блоком контроля качества поверхности образцов при повышенных температурах THERMA+
Нанолаборатория обеспечивает режимы конфокальной флуоресцентной и КР микроскопии, оптической микроскопии, ближнепольной оптической микроскопии, атомно-силовой микроско-пии и локального усиления комбинационного рассеяния.
Электронно-оптический микроскоп PHENOM
Микроскоп обеспечивает фиксированное увеличение 20х и увеличение в диапазоне от 250 до 20.000х (цифровое увеличение 12х).
Сканирующий зондовый микроскоп НАНОСКАН 3D
Прибор НаноСкан, сочетающий функции твердомера и сканирующего силового микроскопа, предназначен для проведения исследований на субмикронном уровне механических свойств, моду-ля упругости и структуры многофазных материалов сверхтвердых материалов.
Скрэтч-тестер (Открытая платформа микроскрэтч тестер + модуль наноскрэтч тестер)
Нано-микросклерометр предназначен для определения механических свойств (адгезия, де-формация, образование трещин) методом контролируемого царапанья образца (микро- и нанопле-нок, защитных покрытий) с помощью алмазного индентора.
Толщиномер CALOTEST INDUSTRIAL
Толщиномер CALOTEST INDUSTRIAL компании CSM Instruments широко используется для анализа толщин покрытий от 0,1 до 50 мкм, методом шарового истирания. Типичные объекты исследования - это покрытия, полученные плазменным напылением, CVD, PVD, анодным окислением, ионным напылением, ионным осаждением, химическим или гальваническим нанесением, полимерные покрытия, лакокрасочные покрытия