Главная
Наноцентр
Научные исследования
Обучение
Научное оборудование
Библиотека
ЦКП
Контакты
Персоналии
Карта сайта
  
Главная > Научное оборудование > Страницы > default.aspx  

Научное оборудование НОЦ "Нанотехнологии" МЭИ ( Наноцентр МЭИ ) 

НОЦ "Нанотехнологии" МЭИ > Главная > Научное оборудование
 

Научное оборудование

Модуль электронно-ионной спектроскопии на базе платформы Нанофаб 25
Сверхвысоковакуумный аналитический модуль электронно-ионной спектроскопии на базе платформы НаноФаб 25 предназначен для проведения комплексного анализа поверхностных слоев твердого тела. В аналитическом модуле могут исследоваться образцы с размерами до 10×10×8 мм в условиях сверхвысокого вакуума (2×10-8Па).
Аналитический модуль ЭИС позволяет реализовать следующие методики анализа поверхности твердого тела:
· Электронная Оже-спектроскопия (ЭОС) – Auger electron spectroscopy (AES);
· Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) – X-ray photoelectron spectroscopy (XPS);
· Ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия (УФЭС) – Ultraviolet photoelectron spectroscopy (UPS);
· Спектроскопия рассеяния медленных ионов (СРМИ) – Ion scattering spectroscopy (ISS);
· Другие перспективные, развивающиеся методы анализа, основанные на электронной спектроскопии: Electron energy loss spectroscopy ( EELS), Elastic peak electron spectroscopy ( EPES), Reflection electron energy loss spectroscopy ( REELS).
Просвечивающий электронный микроскоп TECHNAI G2 20 TWIN
Создан комплекс на базе просвечивающего электронного микроскопа TECHNAI G2 20 TWIN, предназначенный для исследования структуры и химического состава образцов на атомарном уровне.
Нанолаборатория NTEGRA SPECTRA с блоком контроля качества поверхности образцов при повышенных температурах THERMA+
Нанолаборатория обеспечивает режимы конфокальной флуоресцентной и КР микроскопии, оптической микроскопии, ближнепольной оптической микроскопии, атомно-силовой микроскопии и локального усиления комбинационного рассеяния.
Нано Скретч-Тестер NST и Микро Скретч-Тестер MST
Скретч тестер CSM Instruments предназначен для наномеханических испытаний, изучения свойств поверхности тонких пленок и покрытий, таких как адгезия, хрупкость, деформация, отслаивание и износостойкость путем испытания царапаньем.
Сканирующий нанотвердомер НаноСкан-3D
Сканирующий нанотвердомер НаноСкан-3D предназначены для исследования рельефа и структуры поверхностей и измерения механических свойств (в том числе твердости и модуля упругости) объемных материалов и тонких пленок на субмикронном и нанометровом масштабе.
Электронно-оптический микроскоп FEI PHENOM
Электронно-оптический микроскоп FEI PHENOM позволяет получать изображение в оптическом режиме (увеличение 20х) и электронно-оптическом режиме (увеличение 250-20000х). Разрешение микроскопа составляет 20 нм. Исследуемые образцы не должна превышать 25 мм в диаметре и 30 мм по высоте.
Толщиномер CALOTEST INDUSTRIAL
Толщиномер CALOTEST INDUSTRIAL компании CSM Instruments широко используется для анализа толщин покрытий от 0,1 до 50 мкм, методом шарового истирания. Типичные объекты исследования - это покрытия, полученные плазменным напылением, CVD, PVD, анодным окислением, ионным напылением, ионным осаждением, химическим или гальваническим нанесением, полимерные покрытия, лакокрасочные покрытия
Автономная мобильная система получения жидкого азота из воздуха АЗОТMIXTECH 1/2008
Система предназначена для получения и сжижения чистого азота, используемого для обеспечения криостатирования и низкотемпературных экспериментов при исследованиях в области наноматериалов и нанотехнологий.